Diffrazione elettronica a bassa energia con risoluzione energetica

La diffrazione elettronica a bassa energia (LEED) è una tecnica ben consolidata per la valutazione della disposizione degli atomi di superficie. L’informazione è derivata dagli elettroni elasticamente sparsi. Di solito si presume che lo sfondo diffuso termico tra i punti di diffrazione sia costante e sottratto come costante. Per l’analisi del profilo spot, che fornisce la disposizione di unità come isole o domini, l’intensità elastica deve essere misurata in tutta la zona di Brillouin. I soliti sistemi LEED (con risoluzione di energia di alcuni eV) non possono distinguere tra scattering diffuso elastico e termico. A tal fine è stato messo a punto un nuovo strumento. Abbiamo combinato l’unità di deflessione da un sistema LEED ad alta risoluzione con un analizzatore a 127° da uno spettrometro di perdita di energia elettronica ad alta risoluzione (ANGUILLE) in modo adeguato. Il nuovo strumento è stato controllato con la superficie Si(111), Al(111) e Al(111)+O2. La risoluzione energetica (ΔE = 6,7 MeV) consente la separazione di una grande frazione di perdite di fononi. La risoluzione momentum (larghezza di trasferimento 150 nm) è la stessa di altri sistemi LEED ad alta risoluzione. Di conseguenza viene presentato il primo sistema LEED con risoluzione sia ad alto momentum che ad alta energia (ELS‐LEED).