Difracción de electrones de baja energía con resolución de energía

La difracción de electrones de baja energía (LEED) es una técnica bien establecida para la evaluación de la disposición de átomos de superficie. La información se deriva de los electrones dispersos elásticamente. Por lo general, se asume que el fondo difuso térmico entre los puntos de difracción es constante y se resta como constante. Para el análisis de perfiles de puntos, que proporciona la disposición de unidades como islas o dominios, la intensidad elástica debe medirse en toda la zona de Brillouin. Los sistemas LEED habituales (con resolución de energía de algunos EV) no pueden distinguir entre dispersión difusa elástica y térmica. Con ese fin, se ha elaborado un nuevo instrumento. Combinamos la unidad de desviación de un sistema LEED de alta resolución con un analizador de 127° de un espectrómetro de pérdida de energía de electrones (ANGUILAS) de alta resolución de manera adecuada. El nuevo instrumento se comprobó con la superficie Si(111), Al(111) y Al(111)+O2. La resolución de energía (ΔE = 6,7 MeV) permite la separación de una gran fracción de pérdidas de fonones. La resolución de impulso (ancho de transferencia de 150 nm) es la misma que la de otros sistemas LEED de alta resolución. Como resultado, se presenta el primer sistema LEED con gran impulso y resolución de alta energía (ELS‐LEED).